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塑料簿膜薄片測厚儀 型號： CH-12.7-STSX
技術參數：
分度值：0.01mm
測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）
執(zhí)行 標 準：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
技術參數：
分度值：0.01mm
測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）
執(zhí)行 標 準：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
技術參數：
分度值：0.01mm
測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）
執(zhí)行 標 準：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
技術參數：
分度值：0.01mm
測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）
執(zhí)行 標 準：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
技術參數：
分度值：0.01mm
測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）
執(zhí)行 標 準：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
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